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DRK-G302顆粒圖像分析儀
DRK-G302型顆粒圖像分析儀將傳統的測量方法與現代的圖像技術(shù)相結合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統，由光學(xué)顯微...
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DRK7020顆粒圖像分析儀
drk-7020顆粒圖像分析儀將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術(shù)相結合，是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統，由光學(xué)顯...
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XE系列超微量、微量分析天平
XE系列超微量、微量分析天平采用全新的超級單體傳感器技術(shù)—精準、快速、穩定和值得信賴(lài)。完全符合21CFRPart11合規性—完全可追溯性。采...
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DRK-FA2004 分析電子天平
FA（萬(wàn)分之一）系列電子天平采用了目前世界上制作高精度電子天平，首選的電磁力平衡技術(shù)原理設計而成。該系列電子天平具有常用秤量，特色功能秤量服...
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DRK系列新款圓弧天平
設備采用全玻璃觸摸按鍵，方便用戶(hù)操作，按鍵使用壽命高達50000次點(diǎn)擊，遠超薄膜按鍵。設備內置海量存儲數據功能，可存儲數據500條，多用戶(hù)管...
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DRK-JA5003 精密電子天平
JA（千分之一）系列電子天平采用了制作高精度電子天平使用的電磁力平衡技術(shù)原理設計而成。該系列電子天平具有常用秤量，特色功能秤量服務(wù)和操作簡(jiǎn)便...
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DRK112B鹵素水分儀
DRK112B鹵素水分儀，可測量各種粉狀、顆粒狀、膏狀、液體狀、有機、無(wú)機化工原料，各種谷物、糧食、種子、飼料、淀粉、食品、肉類(lèi)、煙草、茶葉...
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DRK-1000B熱重分析儀
DRK-1000B熱重分析儀熱重分析（TGA）通過(guò)程序控溫測量樣品質(zhì)量隨溫度變化的規律，用于研究材料的熱穩定性、組分及分解行為。其核心原理基...
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DRK-Q1000B熱重分析儀
熱重分析（TGA）通過(guò)程序控溫測量樣品質(zhì)量隨溫度變化的規律，用于研究材料的熱穩定性、組分及分解行為。其核心原理基于質(zhì)量變化與溫度的函數關(guān)系，...
查看更多版權所有 @ 山東德瑞克儀器股份有限公司 備案號：魯ICP備12028852號-4 實(shí)驗室一站式服務(wù),實(shí)驗室設計,試驗儀選配.(魯)-非經(jīng)營(yíng)性-2021-0099